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Le faisceau extrait (External Beam-line)

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Cette ligne de faisceau dédiée, consiste à envoyer le flux d’ions incident produit par l’accélérateur sur une fenêtre polymère (8µm) ou en nitrure de silicium (150nm), qui assure l’étanchéité entre la ligne de guidage des ions sous vide et l’atmosphère extérieure. L’énergie élevée des particules leur permet de traverser cette fenêtre et d’avoir un parcours de quelques centimètres dans l’air ambiant. Il est alors possible de positionner sur le parcours du faisceau des objets de grandes dimensions et de capter par un détecteur le rayonnement X émis sous ce flux, et mettre ainsi en œuvre par exemple la méthode PIXE.

Cette ligne est particulièrement utilisée pour l’étude d’objets sur lesquels aucun prélèvement pour analyse n’est possible, par exemple lors de l’expertise d’objets d’art de grande valeur ou de bouteilles de vins fins anciennes.

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Analyse d’une bouteille en verre
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Expertise d’alliages précieux

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