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Accueil du site > FRANCAIS > La plateforme AIFIRA > La plateforme AIFIRA > Analyses par faisceau d’ions > PIXE (Particule Induced X-ray Emission)


PIXE (Particule Induced X-ray Emission)

L’analyse PIXE est basée sur l’excitation des couches électroniques (K, L et M) des atomes par la particule chargée. Ceci entraîne un réarrangement du cortège électronique associé à l’émission de rayonnements X caractéristiques de l’élément chimique excité.

 

 

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Principe de l’émission de rayons X

 

Cette technique peut s’appliquer aussi bien aux échantillons de petite ou de grande taille, épais ou fins. La plus grande sensibilité est obtenue pour les éléments de numéro atomique compris entre 20 et 40 et supérieur à 75. La limite de détection est de l’ordre du μg/g.

 

Système de détection

 

L’analyse PIXE requiert l’utilisation de détecteur devant être refroidi par azote liquide ou effet Peltier. Il est possible d’effectuer les analyses PIXE sur la ligne de microfaisceau, macrofaisceau et faisceau extrait. Les analyses PIXE et RBS sont généralement effectuées simultanément.

 

Photos de la chambre du microfaisceau

 

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Vue exterieure
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Vue interieure