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Accueil du site > FRANCAIS > La plateforme AIFIRA > La plateforme AIFIRA > Les lignes de faisceau


Des techniques de pointes...

Les techniques de caractérisation basées sur les faisceaux d’ions légers avec une gamme d’énergie de l’ordre du MeV tirent aussi bien partie des interactions avec le noyau qu’avec le cortège atomique. Le parcours moyen en profondeur des ions dans le matériau peut alors aller jusqu’à une centaine de micromètres ce qui permet l’analyse d’une large variétés d’échantillons.

 

Les techniques de base telles que l’émission X (PIXE), la diffusion nucléaire élastique (RBS), les réactions nucléaires (NRA, PIGE), et la détection des noyaux de recul (ERDA), ont depuis longtemps prouvé leur intérêt dans le domaine des matériaux. Toutes ces méthodes peuvent être mises en œuvre sur AIFIRA, à l’aide d’un faisceau pouvant aller du millimètre à la centaine de nanomètres afin de fournir une information structurale de l’échantillon.

Parmi les techniques plus spécifiques aux microfaisceaux, on peut également citer l’imagerie par densitométrie (STIM), l’imagerie 3D au travers de la tomographie PIXE ou encore l’induction locale de charges dans les semi-conducteurs (IBIC).

 

Les spécificités de la plateforme alliant la protection radiologique des utilisateurs et la haute-résolution spatiale permet la mise en œuvre de faisceaux sub-microniques d’ions deutérium et la production de neutrons de moyenne énergie.

 

Par ailleurs, des activités liées aux études sur les effets des rayonnements ionisants sur le vivant, notamment les émetteurs alpha, se développent sur une ligne dédiée permettant de délivrer un nombre prédéterminé d’ions He+ (jusqu’à la dose "ultime" d’un ion unique) dans des cellules en culture. La précision de tir de quelques micromètres dans l’air et le contrôle du faisceau ion par ion permet de délivrer une dose parfaitement maîtrisée dans des compartiments cellulaires.

Les lignes de faisceau

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